嵌入式 ADC采样 原始数据分析上层（平均值 波动率 正态分布 线性补偿 系统误差）

基于一些数据处理调试经验 在数据处理时候比如嵌入式通过MCU/FPGA 采样得到一系列的原始数据16进制从数据梳理的角度这些原始数据该如何分析需要做多少次平滑可以降低波动同时在系统响应速度之间获得平衡怎么样的理论分析才能够节省嵌入式数据处理的时间如何判断ADC采集是否有系统误差 正常来说以前处理数据的经验是直接用EXCAL 将串口打印的数据进行16进制转换成10进制然后通过平滑和公式得到 ADC转换后的电压值进而通过EXCAL 工具分析平均值 波动率 如果要做 正态分布 线性补偿分析 系统误差往往会花费比较长的时间 所以结合个人经验个人做了一个上位机来专门做数据分析提高嵌入式/数据分析效率‘功能包括如下1-支持10组数据输入也可以输入其他数量的数据在点击开始分析之后会对10组数据的均值做线性拟合在拟合显示图下方还会对拟合后的精度进行评估 同时在误差分析栏也会对原始数据进行误差分析判断数据是否符合正态分布如果不符合往往原始数据中存在系统误差2- 数据支持10进制和16进制数据输入可以通过过算法框增加将所有原始数据进行运算比如原始数据是2048 可以通过运算框 将原始数据2048/65535*3.30.103126V 等方式 计算转换成电压值最后分析波动也会分析运算后的值运算包括如下 平均值 波动率 正态分布 线性补偿 系统误差分析这样可以快速判断原始数据质量3- 可以通过数据示例来将不同函数叠加快速上手上层熟悉操作和分析示例数据系统误差规律4- 资源链接在我账户的资源分享中可以下载如有改进意见欢迎在评论区留言我会定期上账号看和更新上层